Phenom Pharos G2：可以放在桌子上的場發射掃描電鏡
先進的技術不斷推動科學進步，推動我們對基本原理和基礎科學理解的邊界。
但是科學進步也會受到觀察能力的限制，顯微技術的發展和改進是當今社會技術和知識增長的基石。不斷創新、不斷突破顯微技術的邊界是飛納電鏡的責任與使命。
全新設計的電子光路、場發射燈絲，革命性的震動免疫與磁場隔離、穩定的真空系統，將臺式掃描電鏡的分辨率突破到 1.8 nm 以內，同時不受安裝樓層、震動、磁場的限制。全自動的 15 秒抽真空系統，使得用戶可以在 1 分鐘內獲取材料的形貌和成分信息。
高分辨
15 秒抽真空
1 分鐘場發射 SEM 成像
1 秒能譜 Mapping
低加速電壓
不噴金直接觀測高真空二次電子像
豐富的拓展功能
人人都可操作
可放置任意樓層
高速度和高分辨的理想搭配
材料研究的老師說：我理解的利器應該是具有*的分辨率，那臺式的場發射也可以稱得上科研利器嗎？
第二代飛納臺式場發射掃描電鏡 Phenom Pharos G2 重新定義了臺式電鏡的設備性能和操作速度，能譜和掃描電鏡圖像軟件高度集成，界面友好，不同經驗級別的用戶都可以在 1 分鐘內獲得高分辨率的 SEM 圖像，1s 便可獲得能譜 Mapping 結果。飛納的臺式場發射分辨率優于 1.8nm，實測結果可達1.2nm，輕松觀測納米級別材料。
金顆粒 - 分辨率實測 1.2 nm
1 分鐘出場發射 SEM 圖
1s 獲得能譜 Mapping 結果
“軟"樣品成像*
電池隔離膜材料研發人員說：我非常擔心較高的加速電壓會對我的樣品造成損壞，但是通常較低的加速電壓下又無法獲得好的照片，我很困擾。
第二代飛納臺式場發射電鏡，電子束能量范圍大，在低加速電壓下仍然體現出較高的性能，無需繁瑣的樣品制備，即可直接對絕緣材料和電子束敏感材料進行成像，也不會損壞樣品或者掩蓋樣品納米級的特征。比如用于水凈化的沸石，藥片，膠囊粉末以及以尼龍、聚酯、氨綸和芳綸為原料的聚合物纖維等，這些樣品如果使用高能量的電子束進行成像，將會受到明顯損傷，因此需要使用低能量電子束進行成像。Phenom Pharos G2 臺式場發射掃描電鏡低至 1kV，仍具有*的成像功能。
絕緣樣品 - 5kV - SE 充電嚴重
絕緣樣品 - 1kV - SE 充電消失
電子束敏感樣品 - 20kV - 樣品損傷嚴重
電子束敏感樣品 - 1kV - 樣品不受損傷
植物組織切片
成神經細胞瘤組織切片 92,000x
豐富的拓展功能
做粉末冶金的客戶說：我認為理想的掃描電鏡，不僅只做形貌的觀察和成分的分析，還能快速準確地幫助我們做大量顆粒的統計分析，這樣才能為我們解決實際問題，提升我們的工作效率。
第二代臺式場發射具有 5 大豐富的拓展功能，其中之一的顆粒統計分析系統，便可以自動測量統計顆粒的大小、形狀及數量。
拓展功能 1：顆粒統計分析系統
· 自動并統計分析顆粒的大小、形狀、數量等
· 探測速度快：高達 1000 個 / 分鐘
· 可測量顆粒尺寸范圍：0.1μm-100μm
· 輸出詳細數據：圓度、縱橫比、凹凸度等
· 可選配 Nebula 干粉分散器
拓展功能 2：3D 粗糙度重建系統
· 基于“陰影顯形"技術，進行實時三維重建
· 無需樣品傾斜
· 自動進行粗糙度測量（平均粗糙度 Ra 和粗糙高 Rz 等）
· 可輸出 3D 曲線，2D / 3D 圖像，CSV 等信息
拓展功能 3：自動全景圖像拼合
· 無需干預，全自動采集圖片
· 高分辨和高精度縫合算法：電鏡下圖像連接無波動
· 全域超景深形式展現完整樣品圖像
· 超大視野：最大可達 100mm
拓展功能 4：纖維統計分析測量系統
· 全自動批量化處理，消除人為誤差
· 可觀測納米纖維，獲取豐富的數據結果
· 可輸出纖維直徑分布、纖維方向、濾膜孔徑等數據
· 統計方法可追溯，精確到每一根纖維
拓展功能 5：孔徑統計分析測量系統
· 全自動測量并統計分析孔徑大小、形狀、數量等
· 孔徑詳細數據：長寬比、圓當量直徑、長短軸等
· 輸出孔徑分布、孔隙率等詳細數據結果
· 統計方法可追溯，精確到每一個孔徑
臺式設計：占地小，靈活性高，操作簡單
一位課題組的老師說：我們課題組近幾年發展迅速，人員不斷壯大，需要做掃描電鏡表征的人數越來越多，我們計劃再買一臺供學生使用，但是我們實驗室的空間有限，并且在 10 樓，沒有辦法騰出專門的房間來放置。
傳統的透射掃描電鏡體積龐大，需要一間專門放置設備的房間。且對放置的環境有嚴格的要求，需要專門的防磁、防震裝置，通常建議放置在 1 樓。
Phenom Pharos G2 實現了將場發射掃描電鏡體積縮小了 80 %，直接放置到一張桌子上。內置磁屏蔽和減震系統，對放置環境無嚴格需求，可以根據用戶需求，放置在產線旁，辦公桌，研究室等。
放置于 7 樓的 Phenom Pharos G2
飛納電鏡用戶同濟大學吳一楠老師體驗 Phenom Pharos G2
Phenom Pharos G2：應用案例
Phenom Pharos G2 廣泛應用于鋰電行業、半導體行業、制藥行業、生命科學以及各種金屬材料等。
鋰電池隔膜材料
半導體芯片外觀檢測
包衣藥丸
電機-金屬材料
珊瑚內表面
Phenom Pharos G2：客戶評價
復旦大學 楊振國教授（失效分析專家）：“不需要噴金處理，就可以清晰成像，很大程度地提高了失效分析研究的效率，操作比較簡單，課題組的學生們都能快速掌握使用方法，對我們來說幫助很大。"
同濟大學 吳一楠副教授（環境科學與工程學院）：“最新一代的臺式場發射，讓我非常驚艷。沒想到科技發展和進步地如此之快，可以使得傳統的落地場發射都可以做到桌面上，并且又比傳統落地電鏡操作要方便很多，對安裝和放置環境也沒有什么特殊要求，真的非常推薦！"
Colin Humphreys（英國劍橋大學教授）：“材料科學非常重要，最終將會改變人類的生活。掃描電鏡對材料科學的研究具有重要的意義。傳統電鏡需要非常有經驗的專業人士操作，通常需要長時間的培訓，拍一張圖片也要耗時也很長。而飛納電鏡只需要培訓 15 分鐘即可以上手操作，可以很方便的幾分鐘之內給出樣品的形貌信息和成分信息，給材料科學的研究帶來了非常大的方便。"
Phenom Pharos G2：部分用戶
傳真：
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